佰维存储：自主研发测试设备已对内赋能自有产线测试环节并积极对外开拓市场

每日经济新闻 2026-03-18 20:34

每经AI快讯，3月18日，佰维存储在互动平台表示，公司在NAND Flash及DRAM存储芯片领域的ATE测试、Burn-in（老化）测试、SLT（系统级）测试等多个环节，拥有从测试设备硬件开发、测试算法开发以及测试自动化软件平台开发的全栈测试开发能力。公司自主研发的测试设备已对内赋能公司自有产线的测试环节，并积极对外开拓市场。